日本理學波長色散X射線熒光光譜儀 ZSX Primus IV

日本理學波長色散X射線熒光光譜儀，快速定量元素分析的高性能WDXRF！上照射式波長色散X射線熒光光譜儀ZSXPrimus IV，理學Primus IV提供主要和次要原子元素的快速定量測定，從氧（O）到鈾（U）的最低標準的廣泛樣品類型。高度可靠性的上照射式光學系統ZSXPrimus IV具有場新的上照射式光學配置。用戶再也不用擔心由于......

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日本理學波長色散X射線熒光光譜儀，快速定量元素分析的高性能WDXRF！

上照射式波長色散X射線熒光光譜儀

ZSX Primus IV
理學ZSX Primus III+提供主要和次要原子元素的快速定量測定，從氧（O）到鈾（U）的最低標準的廣泛樣品類型。
高度可靠性的上照射式光學系統
ZSX Primus IV具有場新的上照射式光學配置。用戶再也不用擔心由于維護樣品室導致的路徑污染或停止時間。上照射式幾何結構消除了清掃的擔心并增加了時間。

高精度樣品定位
高精度樣品定位確保了樣品表面與X設吸納管之間的距離恒定。這對例如合金分析等需要高精度的應用非常重要。ZSX Primus IV使用一個獨特的光學配置執行高精度分析，用于減少由于例如電熔銖和壓片等樣品中的非平面表面導致的錯誤。

SQX 基本參數軟件與EZ掃描軟件
用戶使用EZ掃描軟件可以在無需任何事先設置即可分析位置樣品。這個節省時間的特征僅需點擊鼠標和輸入樣品名稱。結合SQX基本參數軟件，快速提供最準確的XRF結果。SQX能夠自動校正包括線重疊的所有矩陣效果。SQX還可以通過光電子（輕、超輕元素）、變化的環境、雜質和不同的樣品尺寸校正輔助的激發效應。使用匹配庫和完美的掃描分析程序提高準確性。

上照射式波長色散X射線熒光光譜儀：
從O到U的元素分析
上照射式光學最小化污染
小占地面積節省實驗室空間
高精度樣品定位
特殊光學減少由于彎曲的樣品表面造成的錯誤
統計過程控制（SPC）的軟件工具
優化抽空和真空泄露率改善吞吐量

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